有没有想过为什么您的笔记本电脑或PC突然坠毁？如果您指责设备，制造商或ISP的硬件，则可能需要重新考虑。
新的研究表明，来自我们银河系以外的粒子可能是计算机崩溃的原因地球。
根据一项新的研究，从太阳系外部倒入的外星亚原子颗粒负责在一个人的PC，智能手机和其他电子设备上造成这个烦人的问题。
范德比尔特大学电气工程学教授巴拉特·布瓦（Bharat Bhuva）在他的演讲中解释了这一理论，名为“有可能有太阳能耀斑的乌云密布：量化太空天气的风险”。
他分享说，在许多情况下，操作故障是由于电荷颗粒的效果，这是由宇宙射线产生的。这些射线本质上是在我们的银河系外产生的。
“这是一个非常大的问题，但对于公众来说大多是看不见的。”说布瓦。
在演讲中，布瓦清除了许多概念，例如单事件不满或SEU。
什么是SEU？
这地球的气氛受到宇宙射线的打击，以光速行驶。这些射线会产生下颗粒的斜槽，例如乳乳，兆，中子和几个α颗粒。
但是，在数百万个生成的颗粒中，只有一小部分可以传递干扰设备集成电路的能量。结果，此干扰能够更改存储在设备内存中的数据。这被称为SEU。
如何追踪基因？
根据布瓦的说法，很难确定粒子在何时何地会发作。此外，由于无法看到损害的物理迹象，因此这些颗粒引起的失败很难说明。因此，解码SEU的发生是一项艰巨的任务。
他进一步解释说，单个翻转可能背后有很多原因。它可能是硬件缺陷，甚至是软件错误。确定这是否是SEU的唯一可能手段是消除任何其他可能的原因。
虽然追踪SEU可能并不容易，但它们的检测并非不可能。研究人员以比利时城镇为例，当时在2003年，电子投票机中有点翻转，导致候选人增加了4096票。
发现此错误的原因是候选人获得的选票比可以想象的更多。后来，故障可追溯到电子设备寄存器中发生的单个位翻转。
研究人员引用的另一个例子是2008年澳航的客机，从新加坡到珀斯旅行时，遇到了SEU。因此，飞行的自动驾驶模式断开了连接，并且在短短23秒内突然跳了690英尺，这导致了几次受伤。
研究人员将“综合电路”的样品取代了芯片和电子实验室的冰或照射，以确定16纳米芯片中的SEU速率。在实验室内部，研究人员将纳米芯片暴露于中子梁，并检查了芯片所经历的SEU。
研究人员透露，大部分电子设备的故障率是数十万个拟合或及时失败的测量率。
Bhuva说：“我们的研究证实，这是一个严重且日益严重的问题。这并不令人惊讶。通过我们对用于军事和空间应用开发的电子电路的辐射影响的研究，我们一直期待对在陆地环境中运行的电子系统的这种影响。”
